Binet-Simon智力测试（BSIT）是由法国心理学家阿尔弗雷德·比奈和他的助手西奥多·西蒙在1905年开创的，这是第一个专门设计来测量儿童智力的心理测试。该测试的核心目标是识别出那些可能需要特殊教育的学生。
BSIT的独特之处在于，它将儿童的智力与他们的”心理年龄”进行比较。心理年龄是指儿童在测试中的表现与平均儿童在同一年龄的表现之间的对比。如果一个儿童的心理年龄超过其实际年龄，那么他们被认为是”超前”；反之，若他们的心理年龄低于其实际年龄，那么他们则被视为”落后”。
该测试主要评估的能力包括记忆力，注意力，想象力以及问题解决能力。它由一系列的任务组成，其中涵盖了这些领域，并且随着测试的进行，任务的难度逐渐增加。例如，针对较小年纪的儿童的任务可能包括追踪移动的物体或命名熟悉的物体，而针对较大年纪的儿童的任务可能涉及解决数学问题或记忆一系列数字。
然而，尽管BSIT在设计时显示出创新性，但它也受到了一些批评。一部分批评者认为，它的一些题目可能对某些文化背景的儿童不公平。另一方面，它过分依赖于语言技能，可能无法准确评估那些有语言障碍或非法语母语者的儿童。
尽管如此，今天我们使用的许多智力测试，如斯坦福-比奈智力量表，都从Binet-Simon测试中汲取了一些元素。尽管它有一些局限性，但Binet-Simon智力测试在儿童智力评估领域的开创性工作是无可否认的，为我们今天对儿童智力的理解和测量奠定了基础。